杰森浅析ICT测试仪短开路的测试方法

      电气测试使用的最基本仪器是ICT在线测试仪，传统的在线测试仪测量时使用专门的针床与已焊接好的线路板上的元器件接触，并用数百毫伏电压和 10毫安以内电流进行分立隔离测试，从而精确地测出所装电阻、电感、电容、二极管、三极管、可控硅、场效应管、集成块等通用和特殊元器件的漏装、错装、参 数值偏差、焊点连焊、线路板开短路等故障，并将故障是哪个元件或开短路位于哪个点准确告诉用户。

　　基本的ICT近年来随着克服先进技术技术局限的技术而改善。例如，当集成电路变得太大以至于不可能为相当的电路覆盖率提供探测目标时，ASIC工程师开发了边界扫描技术。边界扫描提供一个工业标准方法来确认在不允许探针的地方的元件连接。额外的电路设计到IC内面，允许元件以简单的方式与周围的元件通信，以一个容易检查的格式显示测试结果。

　　另一个无矢量技术将交流(AC)信号通过针床施加到测试中的元件。一个传感器板*住测试中的元件表面压住，与元件引脚框形成一个电容，将信号偶合到传感器板。没有偶合信号表示焊点开路。用于大型复杂板的测试程序人工生成很费时费力，但自动测试程序产生软件的出现解决了这一问题，该软件基于PCBA和CAD数据和装配于板上的元件规格库，自动地设计所要求的夹具和测试程序。虽然这些技术有助于缩短简单程序的生成时间，但高节点数测试程序的论证还是费时和具有技术挑战性。

　　那么ICT测试仪开/短路测试程序的应该怎么进行调试呢?

　　当生成开/短路测试数据文件后，为稳定及保险起见，请在开/短路自学习完毕后选择Test对本开/短路测试程序进行测试。测试时机器会先作开路测试(Open Test),它是在同一链上，针号与针号作开路测试;后作短路测试(Short Test)，它是在不同链上针号与针号作短路测试。

　　例： Chain Node 1 1 2 6 12 25 40

　　2 3 11 19 32

　　在链1作开路测试：1-2、1-6 、1-12、1-25、1-40

　　在链2作开路测试：3-11、3-19、3-32

　　若链1、链2通过开路测试，则用链头(Chain Head)作短路测试，即：1-3

　　在开路测试时，针号与针号的电阻若少于开路门槛值(Open Res)，则当作短路,此时开路测试Pass;在短路测试时，针号与针号的电阻若大于短路门槛值(Short Res)，则当作开路,此时短路测试Pass。

　　开/短路设有两个门槛值，主要原因是形成一个范围，使组件值的差异不致使有不稳定或误判的情况发生。

　　测试后若程序稳定，则屏幕左下角推出“PASS”，请下压针床压头来回几次及测试几次，以观察其是否稳定，若出现“FAIL”，则作以下处理：

　　A、 彻底检查显示出的测试针(针号)是否接触不良

　　B、在保证测试针接触良好的情况下，若出现测试时好时坏，则查清是否受电感线圈的影响，如果是，则跳过显示出的针号，操作方法：确认光标在要跳过的针号项时选择O/S Edit/Mask，这时针号项会变成红色，表明已跳过这一针号。

　　因电感线圈在瞬间得电时会产生感生电压，可能会影响开/短路的测试，而使得测试程序工作不稳定。若某几个测试针编号常出错，而查实的确为此类问题，则有必要跳过这几个测试针的编号。

　　被跳过的测试点在开/短路测试时将不考虑该测试点与其它测试点的开/短路关系，但并不影响组件的测试。

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